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VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系统

VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系统

VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系统
  • 发布时间: 2020-05-21 14:28
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VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系统

土壤剖面EC(电导)、紧实度及OM(有机质)调查,土壤样芯采集与高光谱成像分析

VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统由可见光-近红外光谱仪、车载式土壤样芯钻测采样装置组成,同时配备土壤电导传感器,通过GPS定位和数据处理测绘软件,可以对区域范围内的不同样点土壤剖面的土壤反射光谱及土壤电导进行高密度自动抽样测量并绘制分布图,进而全面分析反映土壤剖面的碳氮分布、紧实度、质地、盐碱度、持水能力、阳离子交换能力(CEC)等,可用于土壤调查测绘、土壤碳汇评估、碳汇农业(土壤碳储量估算)、土地复垦监测、及精准农业的研究示范等领域。

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系统使用双波段光谱仪,波长分别为660nm和940nm,综合反映土壤光谱特性;可同时测量土壤剖面光谱特性、土壤剖面电导分布及土壤紧实度(钻探阻力传感器),用于测绘土壤剖面碳氮分布、土壤有机质分布、土壤质地分布等等土壤理化特性;配套软件用于调控、数据记录与标准化及数据处理分析。

同时该系统还可作为土壤剖面样芯采样工具使用,用户可将采到的土壤样芯带回实验室做进一步分析,建议选配易科泰公司SpectraScan高光谱成像分析技术方案。

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技术指标

1.波段:660nm和940nm

2.采样频率:25 spectra/s,自动平均为1个读数

3.光谱分辨率:8nm

4.A/D转换器分辨率:16比特

5.检测器:Ocean Optics USB4000 (350-1050nm)

6.VIS-NIR光谱仪操作温度:-6.7到46℃

7.可同时记录经纬度、深度、压力(钻探阻力,反映土壤紧实度)、电导及土壤剖面光谱特性(660nm、940nm两个波段,反映土壤有机碳或有机质含量)

8.软件:数据采集、聚类分析、样点选择及导航

9.金属采样钻管:直径1.35英寸和1.5英寸可选,长度1米

10.通讯端口:USB 1.1/2.0

11.传感器探杆:102cm×2.54cm(长×直径),包括偶极EC触点传感器和压力传感器

12.连接方式:三点挂接式(与拖拉机)

13.汽缸:54英寸冲程缸

14.传动方式:液压齿轮

15.整体设备尺寸:81cm×121cm×180cm(长×宽×高)

16.整体设备重量:383kg

产地:美国

选配土壤样芯分析技术方案

ØSisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统

ØCoreScanner样芯密度与元素扫描分析系统

ØSisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统

ØSpectraScan高光谱成像扫描分析系统

ØSisuCHEMA高光谱成像分析系统